涂魔師ATO與傳統(tǒng)干膜測(cè)厚技術(shù)的多方面對(duì)比
摘要：涂魔師ATO非接觸膜厚分析儀采用光熱法原理，對(duì)比于其他干膜傳統(tǒng)測(cè)厚儀，涂魔師ATO精度更高、重復(fù)性更好、能做到隔空測(cè)厚
涂魔師ATO與傳統(tǒng)干膜測(cè)厚技術(shù)的多方面對(duì)比
| 測(cè)厚技術(shù) | 涂魔師ATO | 金屬涂層測(cè)厚儀 （如磁感應(yīng)/渦流法） | 超聲波測(cè)厚儀 | 光學(xué)顯微鏡 |
| 測(cè)量精度 | 0.5微米 | 2微米 | 3%+2微米 | 視品牌及型號(hào) |
| 干膜厚度測(cè)量 | √ | √ | √ | √ |
| 在濕膜狀態(tài)下 測(cè)出干膜厚度 | √ | × | × | × |
| 不限底材材質(zhì) | √ | × | × | √ |
| 無損、非破壞式測(cè)量 | √ | √ | √ | × |
| 非接觸式 | √ | × | × | × |
| 準(zhǔn)確測(cè)量彎曲、凹孔、邊緣等不規(guī)則部位膜厚 | √ | × | × | √ |
| 直觀易用 | √ | √ | × | × |
| 流水線在線實(shí)時(shí)測(cè)試 | √ | × | × | × |
| 測(cè)試時(shí)間短 | 0.5秒 | 0.5秒 | 幾秒 | 耗時(shí)長(zhǎng) |
| 無需嚴(yán)格控制測(cè)量距離 和測(cè)試角度 | √ | × | × | × |
| 校準(zhǔn)通用性 | √ | × | × | N/A |
| 測(cè)量多個(gè)涂層厚度 | × | × | √ | √ |
| 測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)傳輸， 數(shù)據(jù)記錄（TCP/IP端口） | √ | × | × | × |
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